ANSI/ASTM F1504-2010 现有污水管和下水管修复用波纹聚氯乙烯管规范

上一篇: ANSI/ASME A112.19.3-2010 不锈钢卫生设备
下一篇: ANSI/UL 1694-2010 小型复合材料的易燃性试验的安全性标准

MIL-PRF-81733D, PERFORMANCE SPECIFICATION SEALING AND COATING COMPOUND, CORROSION INHIBITIVE (15 MAY 1998) (SUPERSEDING MIL-C-81733C]., This specification covers accelerated, room temperature curing synthetic rubber compounds used in the sealing and coating of metal components on weapons and aircraft systems for protection against corrosion. The Class 1 sealing compound is effective over a continuous operating temperature range of –65° to +250° F (–54° to +121° C). The Class 2 sealing compound is effective over a continuous operating temperature range of –80° to +320° F (–62° to +160° C).

标准名称：	半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范
英文名称：	Semiconductor devices--Discrete devices--Part 3:Signal(including switching)and regulator diodes--Section One--Blank detail specification for signal diodes,switching diodes and controlled-avalanche diodes
中标分类：	电子元器件与信息技术 >> 半导体分立器件 >> 半导体二极管
ICS分类：	电子学 >> 半导体器件 >> 二极管
替代情况：	GB/T 6588-1986
发布部门：	国家质量技术监督局
发布日期：	2000-10-17
实施日期：	2001-10-01
首发日期：	1986-07-24
作废日期：	1900-01-01
主管部门：	信息产业部（电子）
提出单位：	中华人民共和国信息产业部
归口单位：	全国半导体分立器件标准化分技术委员会
起草单位：	信息产业部电子工业标准化研究所
起草人：	赵英
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2001-10-01
页数：	13页
书号：	155066.1-17526

本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列国家标准一起使用。GB/T 4589.1-1989 半导体器件 分立器件和集成电路总规范（idt IEC 747-10：1984）GB/T 12560-1999 半导体器件 分立器件分规范（idt IEC 747-11：1996）

没有内容

没有内容

没有内容